High wavelength resolution and measurement sensitivity
The AQ6374 offers a high wavelength resolution (minimum 
0.05 nm) and a high close-in dynamic range of 60 dB (peak ±1.0 
nm) which enable high-accuracy measurement of the emission 
spectrum of semiconductor lasers, such as a distributed 
feedback laser diode (DFB-LD) and a vertical cavity surface 
emitting laser (VCSEL). Its minimum receiving sensitivity 
of −80 dBm and the ability to sample 100,001 points enable 
comprehensive measurement over a wide wavelength range, 
including the wavelength loss characteristics of optical fiber.
„ Free-space optical input structure
Measuring via single-mode and multi-mode fibers is possible. Not 
using optical fibers in the input part lowers insertion loss even 
when using multi-mode fibers, and suppresses the degradation of 
measuring speed caused by drops in input signal levels.
„ Gas purging feature
There is strong light absorption due to the influence of 
water vapor at a wavelength near 1400 nm which may affect 
measurement results. The AQ6374 can reduce the influence 
of the optical absorption of water vapor on measurement 
by continuously supplying a purge gas such as nitrogen to 
the inside of the monochromator through an air inlet/outlet 
opening on the back panel of the analyzer.